TEM Entwodiksyon

Transmisyon Electron Microscope (TEM) se yon teknik analiz estrikti mikrofizik ki baze sou mikwoskòp elèktron ki baze sou gwo bout bwa elèktron kòm yon sous limyè, ak yon rezolisyon maksimòm apeprè 0.1nm.Aparisyon nan teknoloji TEM te amelyore anpil limit obsèvasyon je moun toutouni nan estrikti mikwoskopik, epi li se yon ekipman obsèvasyon mikwoskopik endispansab nan jaden an semi-conducteurs, epi li se tou yon ekipman endispansab pou rechèch ak devlopman pwosesis, siveyans pwosesis pwodiksyon an mas, ak pwosesis. analiz anomali nan jaden an semi-conducteurs.

TEM gen yon pakèt aplikasyon pou nan jaden semi-conducteurs, tankou analiz pwosesis fabrikasyon wafer, analiz echèk chip, analiz ranvèse chip, kouch ak grave analiz pwosesis semi-conducteurs, elatriye, baz kliyan an se tout lòt peyi sou fab yo, plant anbalaj, konpayi konsepsyon chip, rechèch ekipman semi-conducteurs ak devlopman, rechèch materyèl ak devlopman, enstiti rechèch inivèsite ak sou sa.

GRGTEST TEM teknik ekip kapasite entwodiksyon
Ekip teknik TEM te dirije pa Dr Chen Zhen, ak kolòn vètebral teknik ekip la gen plis pase 5 ane eksperyans nan endistri ki gen rapò.Yo pa sèlman gen eksperyans rich nan analiz rezilta TEM, men tou, eksperyans rich nan preparasyon echantiyon FIB, epi yo gen kapasite nan analize 7nm ak pi wo pase pwosesis avanse gaufr ak estrikti kle yo nan aparèy semi-conducteurs divès kalite.Kounye a, kliyan nou yo toupatou nan fab premye liy domestik yo, faktori anbalaj, konpayi konsepsyon chip, inivèsite ak enstiti rechèch syantifik, elatriye, epi yo lajman rekonèt pa kliyan yo.